Vieillissement du TRIAC soumis à des essais de fiabilité du type HTRB - DUMAS - Dépôt Universitaire de Mémoires Après Soutenance Accéder directement au contenu
Mémoires Année : 2016

Vieillissement du TRIAC soumis à des essais de fiabilité du type HTRB

Résumé

This work deals with the TRIACs aging, used for industrial, lighting, and home appliance. We evaluated the lifetime of these TRIACs and analysed their failure mechanisms when devices were off state. The first part of this work consisted in carrying out a benchmark done on TRIACs, concepts used in reliability, and finally the impacts of the temperature and voltage of TRIAC static parameters. This work allowed us to understand the failure that may occur during the off state TRIACs. In the last part of this document, we analysed experimentally the impact of the temperature and voltage (DC, AC) on the lifetime of TRIACs. This study allowed us to define the accelerations factors of failures. The challenge of this work is to build a lifetime prediction model for TRIACs. Thus, we proposed a model based on experimental results.
Les travaux présentés dans ce mémoire portent sur l’évaluation de vieillissement des TRIACs pour des applications industrielles, grand public et d’éclairage. Nous avons cherché à évaluer la durée de vie de ces TRIACs et comprendre les mécanismes de dégradation lorsque ces derniers sont à l’état bloqué. La première partie de ce travail a consisté à effectuer un état de l’art portant sur les TRIACs, les notions utilisées en fiabilité, et enfin les impacts de la température et de la tension sur les paramètres statiques du TRIAC. Ce travail nous a permis d’appréhender les dégradations qui peuvent apparaître pour des TRIACs à l’état bloqué. Dans la dernière partie de ce mémoire, nous avons analysé expérimentalement l’impact de la température et de la tension (DC, AC) sur la durée de vie des TRIACs. Ce travail a permis de déterminer les facteurs d’accélération des défaillances. L’enjeu de ce mémoire est de mettre en place des outils de prédiction de durée de vie des TRIACs. Nous avons alors proposé un modèle qui s’appuie sur les tests expérimentaux.
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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

dumas-01803690 , version 1 (30-05-2018)

Identifiants

  • HAL Id : dumas-01803690 , version 1

Citer

Gilles Rousseau. Vieillissement du TRIAC soumis à des essais de fiabilité du type HTRB. Electronique. 2016. ⟨dumas-01803690⟩
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