Liaison d'un outil de description des circuits intégrés à un microscope électronique à balayage - DUMAS - Dépôt Universitaire de Mémoires Après Soutenance Access content directly
Master Thesis Year : 1985

Liaison d'un outil de description des circuits intégrés à un microscope électronique à balayage

Abstract

Lors de la mise au point de Circuits Intégrés (CI) prototypes, le concepteur peut conduire deux types d'analyse : une analyse externe (comportement du circuit à travers ses plots d'entrée/sortie), une analyse interne (fonctionnement des CI par prélèvement de valeurs logique et électrique en divers points internes du circuit au niveau des composants). L'analyse de points internes du CI peut être effectuée à l'aide d'un microscope électronique à balayage. Le première partie de ce rapport décrira un microscope électronique à balayage, le chapitre suivant présenterai l'outil de test organisé autour de cet appareil. Dans le troisième partie, le langage de description de circuits CALMA sera décrit. La quatrième partie présentera les méthodes utilisables pour mettre au point des circuits prototypes. Enfin, les les deux derniers chapitres seront consacrés au travail effectué, en décrivant, respectivement les programmes implantés et les différents tests réalisés.
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Dates and versions

dumas-00319081 , version 1 (05-09-2008)

Identifiers

  • HAL Id : dumas-00319081 , version 1

Cite

Isabelle Guiguet. Liaison d'un outil de description des circuits intégrés à un microscope électronique à balayage. Electronique. 1985. ⟨dumas-00319081⟩

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DUMAS
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