La topographie aux rayons X est une méthode de caractérisation basée sur le contraste de diffraction. Applicable aux solides cristallisés, elle permet l'identification et l'étude de défauts de structure engendrés par la conception et/ou la mise en forme d'un matériau. Sa mise en oeuvre est possible en source de laboratoire ou en source synchrotron selon plusieurs géométries. La conception d'une expérience de topographie en géométrie de Lang demande une attention particulière, en regard des multiples possibilités d'utilisation du montage. Nous avons conçu l'expérience, nous l'avons testée et réglée, enfin nous avons démontré qu'il était possible d'obtenir des clichés de topographie X sur des échantillons monocristallins.