Conception d'une expérience de topographie aux rayons X : application à l'étude de défauts intrinsèques et extrinsèques dans les cristaux - DUMAS - Dépôt Universitaire de Mémoires Après Soutenance Accéder directement au contenu
Mémoires Année : 2010

Conception d'une expérience de topographie aux rayons X : application à l'étude de défauts intrinsèques et extrinsèques dans les cristaux

Jérôme Debray

Résumé

X Rays Topography (XRT) is a characterization method based on diffraction contrast. Applicable to crystallized solids, it has ability to identify and study structural defects caused by material conception or forming. His development take place in laboratory source or synchrotron source in several geometry. Conception of XRT experience in Lang geometry require a special attention, in comparison with multiple possibility of this setting. We have design this experience, test and set it, at last we have demonstrate that it was possible to make XRT image on single crystalline samples.
La topographie aux rayons X est une méthode de caractérisation basée sur le contraste de diffraction. Applicable aux solides cristallisés, elle permet l'identification et l'étude de défauts de structure engendrés par la conception et/ou la mise en forme d'un matériau. Sa mise en oeuvre est possible en source de laboratoire ou en source synchrotron selon plusieurs géométries. La conception d'une expérience de topographie en géométrie de Lang demande une attention particulière, en regard des multiples possibilités d'utilisation du montage. Nous avons conçu l'expérience, nous l'avons testée et réglée, enfin nous avons démontré qu'il était possible d'obtenir des clichés de topographie X sur des échantillons monocristallins.

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Dates et versions

dumas-00597967 , version 1 (03-06-2011)

Identifiants

  • HAL Id : dumas-00597967 , version 1

Citer

Jérôme Debray. Conception d'une expérience de topographie aux rayons X : application à l'étude de défauts intrinsèques et extrinsèques dans les cristaux. Matériaux. 2010. ⟨dumas-00597967⟩
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